二次压降负载测试仪配电终端自动化测试仪原料层层筛选

二次压降负载测试仪 三线压降自校 异常图五 三线压降自校 正常图五所示为三线压降自校结果显示内容包括：PT侧AB相电压，CB相电压，Wh侧AB相电压，CB相电压，两侧AB相角差、CB相角差；两侧AB相比差、CB相比差；AB相综合误差及修约值，CB相综合误差及修约值。4．三线压降屏在选中‘三线压降’功能后，按键，进入三线压降测试屏，即开始测试计数，如果两侧的幅值和角差不正常，在计数12次后则提示接线异常（如图六所示），正常的话在计够60次后测试完毕，显示测试结果（如图七所示）。图六 三线压降测试 异常图七 三线压降测试 正常图七所示为三线压降测试结果包括：PT侧AB相电压，CB相电压；Wh侧AB相电压，CB相电压；两侧AB相比差、CB相比差；两侧AB相角差、CB相角差；AB相综合误差及修约值，CB相综合误差及修约值。并提示可选择相应的保存、打印功能进行数据保存或打印测试结果。5．四线自校屏四线压降自校功能是在进行三相四线压降测试前进行的精度自动校准功能，用来提高测试时的精度。在选中‘四线自校’功能后，按键进入‘四线自校’屏，开始自校计数，如果两侧的幅值和角差不正常，在计数12次后则提示接线异常（如图八所示），计够60次后测试完毕，显示测试结果（如图九所示）。图八 四线自校测试 异常图九 四线自校测试 正常图九所示为四线压降自校结果包括：PT侧A相电压、B相电压、C相电压；Wh侧A相电压、B相电压、C相电压；两侧A相角差、B相角差、C相角差；两侧A相比差、B相比差、C相比差；两侧A、B、C各相的综合误差及修约。6．四线压降屏在选中‘四线压降’功能后，按键进入‘四线压降’屏，开始测试计数，如果两侧的幅值和角差不正常，在计数12次后则提示接线异常（如图十所示），计够60次后测试完毕，显示测试结果

二次压降负载测试仪退出键：返回键，非参数输入状态时，按下此键均直接返回到主菜单。在参数输入的过程中不起作用。存储键：用来将测试结果存储为记录的形式。查询键：用来浏览已存储的记录内容。设置键：在主菜单按下此键，直接进入参数设置屏。切换键：出厂调试时生产厂家使用，用户不需用到此键。自检键：保留功能，暂不用。帮助键：用来显示帮助信息。数字（字符）键：用来进行参数设置的输入（可输入数字或字符），与手机的输入模式相似，连续按下时可将要输入的字符在数字和字母之间切换。小数点键：用来在设置参数时输入小数点。＃键：保留功能，暂不用。F1、F2、F3、F4、F5：辅助功能键（快捷键）。用来快速进入辅助功能界面或实现相应的功能。在有些功能界面（如：电气测试、矢量分析、波形显示等界面）F1和F2用来实现屏幕的锁定和解锁功能。F4键在有些功能界面实现测试结果打印功能。3、液晶界面液晶显示界面主要有十三屏，包括主菜单（开机即进入）、十二个功能界面，显示内容丰富。

二次压降负载测试仪历史记录界面操作：在主界面下，通过”键选择“历史记录”，按“ENTER”键进入该界面如下图所示:在本界面下，通过“键来选择当前记录和翻页。按下F1键，查看当前记录，当前记录分两屏显示，屏显示测试时环境参数，第二屏显示实际的测试结果。界面如下图所示。按下F2键，删除当前记录此时只是在内存中删除了记录，并没有在存储器中完成删除的操作，需要按下“MENU”才真正完成删除的操作。按下F3键，导出数据导出数据是将保存在内部存储器的历史记录，全部保存到SD卡里，以当前时间年月日小时命令的文件里，如当前时间是2016-05-28 09:20:30， 则此时导出文件的名为：.DAT文件。按下F4键，清空记录清空记录是指将保存到内部存储器的所有历史记录删除。它不会删除SD卡里的数据。七、系统设置界面操作：系统设置界面包括了当前时间的设置以及自动关背光时间的设置。通过“←”“→”键选择要更改的项目，然后通过“↑”，“↓”键来完成更改。界面如下图所示：按下F1键，恢复默认的关液晶背光时间按下F2键，保存当前设定的关背光时间按下F3键，保存当前设定的时间按下F4键，返回到主菜单八、二次负荷在线测试1、测量接线3线PT负荷测试接线在PT侧进行测试。PT侧A、B、C相电压线分别接到测量终端的U1、Un、U3端子上；用A、C(分别接到测量终端的I1，I3上)两把钳形电流互感器分别接到PT侧A、C相上，注意：相别一定要对应，否则测试结果不正确。接线图如下所示：4线PT负荷测试接线在PT侧进行测试 ，PT侧A、B、C、N相电压线分别接到测量终端的U1，U2，U3，UN端子上；用三把钳形电流互感器分别卡到PT侧各相上